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简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究
查看参考文献7篇
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文摘
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简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法，但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处，线性电光系数的表达结果也不尽相同。在充分考虑各种因素的情况下，对该方法给出了合理的理论处理，得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式。并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果。讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性。 |
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来源
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物理学报
,2000,49(2):262 【核心库】
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DOI
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10.7498/aps.49.262
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地址
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1.
山东大学, 晶体材料国家重点实验室, 山东, 济南, 250100
2.
同济大学波耳固体物理研究所, 上海, 200092
3.
中科院半导体所, 北京, 100083
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语种
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中文 |
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ISSN
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1000-3290 |
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学科
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物理学 |
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基金
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国家自然科学基金
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文献收藏号
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CSCD:782415
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参考文献 共
7
共1页
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1.
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Appl Phys Lett,1997,70:33
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被引
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