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杂质Si对InAs自组织量子点均匀性的影响

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文摘 研究了较低掺杂浓度对InAs量子点中直接掺杂Si对其发光特性的影响。光致发光谱(PL)的测量表明,与未掺杂样品相比,掺杂样品发光峰稍微蓝移,同时伴随着发光峰谱线明显变窄。该结果表明,在生长InAs层时直接掺杂,有利于形成大小分布更均匀的小量子点。该研究对InAs自组织量子点在器件应用方面有一定的意义。
来源 红外与毫米波学报 ,1999,18(6):423 【核心库】
关键词 自组织量子点 ; PL ; 硅掺杂 ; InAs/GaAs
地址

中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京, 100083

语种 中文
ISSN 1001-9014
学科 物理学
基金 国家攀登计划项目 ;  国家自然科学基金
文献收藏号 CSCD:641250

参考文献 共 3 共1页

1.  杨小平. GaAs(100)衬底上自组织生长InAs量子点的研究. 半导体学报,1996,17(11):869 被引 14    
2.  陈枫. InAs自组织生长量子点的电子俘获势垒. 红外与毫米波学报,1997,16(4):241 被引 3    
3.  Chen Feng. Superlattices Microstructures,1998,24(5):353 被引 1    
引证文献 3

1 汪辉 生长停顿对量子点激光器的影响 红外与毫米波学报,2000,19(5):347
被引 1

2 张冠杰 量子点红外探测器的特性与研究进展 物理,2005,34(9):666-671
被引 1

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