文摘
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用两步退火法在掺CdSeS的玻璃中制备了高密度的量子点,均匀性较好。量子点尺寸随第二步退火时间加长而增大,但组份基本不变。研究了量子点光学性质与退火时间的依赖关系,证明光致发光谱中的低能峰与量子点表面缺陷态有关。量子点尺寸越小,比表面越大,该峰相对强度越大。 |
来源
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半导体学报
,2001,22(8):996 【核心库】
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关键词
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CdSeS
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量子点
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光致发光
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退火
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地址
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1.
中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京, 100083
2.
北京师范大学物理系, 北京, 100875
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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0253-4177 |
学科
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电子技术、通信技术 |
基金
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国家自然科学基金
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文献收藏号
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CSCD:533064
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