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文摘
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采用Huybrechts线性组合算符和变分法，讨论了晶格热振动对极性半导体膜中电子-表面光学(SO)声子强耦合和电子-体纵光学(LO)声子弱耦合体系的影响，得到了极化子自陷能随膜厚和温度变化的规律，对CdF_2半导体膜进行了数值计算，结果表明，CdF_2极性半导体膜中表面光学声子和体纵光学声子对极化子自陷能的贡献分别在薄膜和宽膜情况下起主导作用。并且发现CdF_2半导体膜中的不同支声子与电子相互作用对极化子自陷能的贡献，以及极化子的总自陷能都将随温度的升高而减小，这表明晶格热振动将削弱电子-声子耦合。 |
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来源
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半导体学报
,2001,22(6):715 【核心库】
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关键词
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电子-声子强耦合
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极化子
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自陷能
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温度依赖性
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地址
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1.
内蒙古民族大学物理系, 内蒙古, 通辽, 028043
2.
中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京, 100083
3.
内蒙古民族大学物理系, 激发态物理开放实验室, 内蒙古, 通辽, 028043
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语种
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中文 |
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文献类型
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研究性论文 |
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ISSN
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0253-4177 |
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学科
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物理学 |
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基金
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国家自然科学基金
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所激发态物理重点实验室基金
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文献收藏号
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CSCD:533006
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