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掺铒富硅氧化硅薄膜的光致发光

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文摘 该文研究了富硅氧化硅薄膜掺入铒的发光特性。富硅氧化硅薄膜(氧含量为60%)采用PECVD方法生长,室温下离子注入铒,经过800℃,5min的退火,在10-~300K温度下得到较强的波长1.54μm光致发光。发光强度随温度升高下降,其温度猝灭激活能为14.3meV。发光谱表明富硅氧化硅中Er-O发光中心仍具有T_d对称性。
来源 半导体学报 ,1999,20(1):67 【核心库】
关键词 ; 氧化硅薄膜 ; 光致发光
地址

中科院半导体所, 集成光电子学联合国家重点实验室, 北京

语种 中文
文献类型 简报
ISSN 0253-4177
学科 电子技术、通信技术
文献收藏号 CSCD:490820

参考文献 共 2 共1页

1.  Tang Y S. Appl Phys Lett,1989,55:432 被引 11    
2.  Shang Yuanren. J Appl Phys,1997,81:1877 被引 1    
引证文献 4

1 李宏建 硅基材料的发光特性及机理 材料导报,2001,15(9):36
被引 0 次

2 雷红兵 掺铒硅光致发光激子传递能量机制 半导体学报,2000,21(3):232
被引 1

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