文摘
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该文研究了富硅氧化硅薄膜掺入铒的发光特性。富硅氧化硅薄膜(氧含量为60%)采用PECVD方法生长,室温下离子注入铒,经过800℃,5min的退火,在10-~300K温度下得到较强的波长1.54μm光致发光。发光强度随温度升高下降,其温度猝灭激活能为14.3meV。发光谱表明富硅氧化硅中Er-O发光中心仍具有T_d对称性。 |
来源
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半导体学报
,1999,20(1):67 【核心库】
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关键词
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铒
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氧化硅薄膜
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光致发光
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地址
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中科院半导体所, 集成光电子学联合国家重点实验室, 北京
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语种
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中文 |
文献类型
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简报 |
ISSN
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0253-4177 |
学科
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电子技术、通信技术 |
文献收藏号
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CSCD:490820
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