双极电压比较器不同条件下总剂量辐射效应
Total Ionizing Dose Effect of Bipolar Voltage Comparator
查看参考文献11篇
文摘
|
为分析电压比较器在空间辐射环境下的损伤变化规律,对电压比较器在不同偏置和剂量率下的电离辐射效应进行了系统研究。结果表明,电压比较器的多个参数均发生较大变化,且敏感参数与辐照条件有很强的依赖关系。不同偏置的高低剂量率辐照结果显示,比较器的剂量率效应与偏置相关,不同偏置条件下,器件的辐射损伤模式略有不同。 |
其他语种文摘
|
The bipolar voltage comparators with different biases were irradiated at high and low dose rates to investigate their total dose effect. The results show that many electrical parameters change and the sensitive parameters vary with the biases. Through comparing the damage at high and low dose rates, it is found that the dose rate effects depended on the biases and the damage model changes with the biases. |
来源
|
原子能科学技术
,2012,46(9):1147-1152 【核心库】
|
关键词
|
电离辐射
;
双极电压比较器
;
剂量率效应
|
地址
|
中国科学院新疆理化技术研究所, 新疆电子信息材料与器件重点实验室, 新疆, 乌鲁木齐, 830011
|
语种
|
中文 |
ISSN
|
1000-6931 |
学科
|
物理学;电子技术、通信技术 |
文献收藏号
|
CSCD:4746535
|
参考文献 共
11
共1页
|
1.
任迪远. 双极器件和电路的不同剂量率的辐射效应研究.
固体电子学研究与进展,2006,26(4):471-476
|
被引
9
次
|
|
|
|
2.
Johnston A H. Total dose effects in conventional bipolar transistors and linear integrated circuits.
IEEE Trans Nucl Sci,1994,41(6):2427-2436
|
被引
18
次
|
|
|
|
3.
Dusseau L. Analysis of total-dose response of a bipolar voltage comparator combining radiation experiments and design data.
IEEE Trans Nucl Sci,2006,53(4):1910-1916
|
被引
6
次
|
|
|
|
4.
Bernard M F. Analysis of bias effects on the total-dose response of a bipolar voltage comparator.
IEEE Trans Nucl Sci,2006,53(6):3232-3236
|
被引
2
次
|
|
|
|
5.
Adell P C. Total dose effects in a linear voltage regulator.
IEEE Trans Nucl Sci,2004,51(6):3816-3821
|
被引
8
次
|
|
|
|
6.
Nowlin R N. Trends in total-dose response of modern bipolar transistors.
IEEE Trans Nucl Sci,1992,39(6):2026-2035
|
被引
15
次
|
|
|
|
7.
Pershenkov V S. The effect of emitter junction bias on the low dose-rate radiation response of bipolar devices.
IEEE Trans Nucl Sci,1997,44(6):1840-1848
|
被引
37
次
|
|
|
|
8.
费武雄. 不同偏置条件下NPN双极晶体管的电离辐照效应.
原子能科学技术,2011,45(2):217-222
|
被引
7
次
|
|
|
|
9.
程兴华. 集电极偏置电流对硅npn晶体管γ辐照效应的影响.
半导体学报,2007,28(8):1248-1251
|
被引
2
次
|
|
|
|
10.
Witczak S C. Space charge limited degradation of bipolar oxides at low electric fields.
IEEE Trans Nucl Sci,1998,45(6):2339-2351
|
被引
26
次
|
|
|
|
11.
Boch J. Elevated temperature irradiation at high dose rate of commercial linear bipolar ICs.
IEEE Trans Nucl Sci,2004,51(5):2903-2907
|
被引
12
次
|
|
|
|
|