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选择腐蚀确定垂直腔面发射激光器生长偏差对模式波长的影响

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文摘 提出一种可在垂直腔面发射激光器外延生长后准确确定其模式生长偏差的简便方法。利用选择性湿法腐蚀,分别测出器件各主要部分的微区光反射谱,通对模拟计算得到这些部分的厚度偏差及其对模式波长偏移的影响,使调整后再生长的器件模式位置大为改善,并为器件后期制备的模式调节提供了可靠的依据。
来源 半导体学报 ,1998,19(1):76 【核心库】
关键词 腐蚀 ; 垂直腔面发射激光器 ; 生长偏差 ; 模式波长
地址

中科院半导体所, 北京

语种 中文
文献类型 简报
ISSN 0253-4177
学科 电子技术、通信技术
文献收藏号 CSCD:423659

参考文献 共 4 共1页

1.  潘钟. LEOS’96,1996 被引 1    
2.  Li G S. IEEE Photonics Technol Lett,1996,7(9):971 被引 1    
3.  Hou H Q. IEEE Photonics Technol Lett,1996,8(10):1285 被引 1    
4.  陈志标. 非对称长法布里-伯里腔光调制特性分析及高对比度GaAs/AlGaAs调制器. 半导体学报,1996,17(12):891 被引 8    
引证文献 3

1 赵红东 量子阱垂直腔面发射激光器及其微腔物理 激光与光电子学进展,2001(4):19
被引 1

2 Yue Aiwen High Slope Efficiency and High Power 850nm Oxide-Confined Vertical Cavity Surface Emitting Lasers 半导体学报,2003,24(7):693-696
被引 1

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