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246nm p-i-n型背照AlGaN太阳盲紫外探测器的研制
Fabrication of 246 nm back-illuminated AlGaN solar-blind ultraviolet p-i-n photodetector

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颜廷静 1   种明 1   赵德刚 2   张爽 2   陈良惠 1  
文摘 设计并制备出短波长p-i-n型背照AlGaN太阳盲紫外探测器,响应波段为225~255 nm,峰值波长为246nm.材料为在蓝宝石衬底上生长的背照式p-i-n型异质结结构,n型窗口层的AlxGa1-xN中的Al组分为71%,非故意掺杂吸收层中的Al组分为52%.零偏压下测得的暗电流为27 pA,光电流为2.7 nA,峰值响应度为23 mA/W.并在此基础上制备出大面阵太阳盲紫外探测器芯片,其像元数为128×128,光敏元直径为44μm,像元间距为50μm
其他语种文摘 A short wavelength back-illuminated AlGaN solar-blind ultraviolet p-i-n photodetector was designed and fabricated. It was photosensitive in the waveband 225-255 nm, and the peak wavelength was 246 nm. A back-illuminated p-i-n heterojunction structure was grown on transparent sapphire substrate using MOCVD, the AlxGa1-xN alloy composition of the n-type window layer was 71%, and the alloy composition of the unintentionally doped(UID) absorber layer was 52%.The dark current measured at zero bias was 27 pA, and the photocurrent was 2.7 nA, while the peak responsivity was 23 mA/W.A 128×128 pixels solar blind ultraviolet photodetector array was fabricated on this basis. The diameter of each pixel was 44 μm with a 50 μm pitch
来源 红外与激光工程 ,2011,40(1):32-35 【核心库】
关键词 AlGaN ; 太阳盲 ; 紫外探测器 ; 面阵
地址

1. 中国科学院半导体研究所, 中国科学院纳米光电子实验室, 北京, 100083  

2. 中国科学院半导体研究所, 集成光电子国家重点实验室, 北京, 100083

语种 中文
文献类型 研究性论文
ISSN 1007-2276
学科 电子技术、通信技术
基金 国家自然科学基金资助项目 ;  国家863计划
文献收藏号 CSCD:4142236

参考文献 共 10 共1页

1.  Pankove J I. GaN:from fundamentals to applications. Mater Sci Eng.B,1999,61/62:305-309 被引 6    
2.  Munoz E. (Al, Ga)N ultraviolet photodetectors and applications. Physica Status Solidi(a),2000,180(1):293-300 被引 4    
3.  李向阳. GaN基紫外探测器及其研究进展. 红外与激光工程,2006,35(3):276-280 被引 27    
4.  陈良惠. Ⅲ-Ⅴ族半导体全(多)光谱焦平面探测器新进展. 红外与激光工程,2008,37(1):1-8 被引 11    
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10.  Reine M B. Solar-blind AlGaN 256×256 p-i-n detectors and focal plane arrays. SPIE.6119:611901 被引 1    
引证文献 2

1 张孝富 ~(60)Coγ射线对高铝组分Al_(0.5)Ga_(0.5)N基p-i-n日盲型光探测器理想因子的影响 物理学报,2013,62(7):076106-1-076106-6
被引 2

2 刘晖 Cs量与Cs_2Te光阴极紫外-可见光抑制比关系研究 红外与激光工程,2014,43(3):940-943
被引 0 次

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