文摘
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采用一种晶向性腐蚀方法,在(100)Si平面衬底上腐蚀得到一种非平面结构,经SiGeMBE外延后,从SEM照片上可以看出,SiGe外延层是一种量子点、线和阱的混合结构.非平面结构上的SiGe层的发光强度为平面结构上的8~10倍.从SiGe层内发出的发光强度占样品总发光强度的96%,且m≈1.1的值表明外延层的质量及对载流子的收集效率是高的.随着激发功率的增加,可以看到PL谱的蓝移. |
来源
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半导体学报
,1997,18(1):10 【核心库】
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关键词
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Si非平面衬底
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SiGe/Si量子阱
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光致发光
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地址
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1.
中科院半导体所, 北京
2.
中科院物理所, 北京
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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0253-4177 |
学科
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电子技术、通信技术 |
基金
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国家863计划
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文献收藏号
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CSCD:358666
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