文摘
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报道了关于InAs/GaAs自组织生长多层垂直耦合量子点的研究结果。透射电子显微镜测量显示多层量子点在生长方向上成串排列,有些量子串会发生融和。还有些量子串生长不完全,也就是说包含的量子点个数少于InAs层数,并由此导致多耦合量子点的光致发光谱具有高能带尾。 |
来源
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半导体学报
,1997,18(7):550 【核心库】
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关键词
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片组织生长多层垂直耦合
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InAs量子点
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地址
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1.
中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京
2.
中科院北京电子显微镜实验室, 北京电子显微镜开放实验室, 北京, 100080
3.
中科院北京电子显微镜实验室, 北京电子显微镜开放实验室, 北京
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语种
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中文 |
文献类型
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简报 |
ISSN
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0253-4177 |
学科
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电子技术、通信技术 |
基金
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国家攀登计划项目
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国家自然科学基金
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文献收藏号
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CSCD:358575
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