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12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应
Radiation effects of a 12-bit bipolar digital-to-analog converter under different dose rates
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文摘
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通过对12位双极数模转换器在~(60)γ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异。这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应。结合辐射响应测试过程和空间电荷模型,对其损伤模块和辐射损伤机理进行初步探讨。 |
其他语种文摘
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Total-dose effects and room-temperature annealing behavior of bipolar digital-to-analog converter (DAC) irradiated by ~(60)Co γ-rays were investigated. The results show that the response of the DAC is different between low- and high-dose-rote irradiation. It was found that the integrated circuits exhibit ELDRS and time dependence effect as well. Based on the space charge model, possible mechanism for this response is discussed. |
来源
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核技术
,2008,31(9):685-688 【核心库】
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关键词
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数模转换器
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辐射效应
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室温退火
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ELDRS
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地址
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中国科学院新疆理化技术研究所, 新疆, 乌鲁木齐, 830011
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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0253-3219 |
学科
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电子技术、通信技术 |
文献收藏号
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CSCD:3394637
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参考文献 共
12
共1页
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