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一个检测半导体激光器质量的有效方法

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石家纬 1   金恩顺 1   李红岩 1   李正庭 1   郭树旭 1   高鼎三 1   余金中 2   郭良 2  
文摘 对一百支PBC结构的InGaAsP/InP激光器的检测表明,通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选.
来源 半导体学报 ,1996,17(8):595 【核心库】
关键词 检测 ; 半导体激光器 ; 质量
地址

1. 吉林大学电子工程系, 集成光电子学联合国家重点实验室, 吉林, 长春  

2. 中科院半导体所, 北京

语种 中文
文献类型 研究性论文
ISSN 0253-4177
学科 电子技术、通信技术
文献收藏号 CSCD:321274

参考文献 共 4 共1页

1.  金恩顺. 半导体技术,1984(1):24 被引 2    
2.  石家纬. 吉林大学自然科学学报,1985(2):60 被引 3    
3.  石家纬. Optical and Quantum Electronics,1992,24:775 被引 4    
4.  石家纬. Microelectron Reliab,1994,34(76):1405 被引 2    
引证文献 3

1 高欣 808nm无铝材料激光器可靠性筛选的实验探讨 光电子·激光,1999,10(6):580
被引 0 次

2 李红岩 电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选 中国激光,1999,16(6):507
被引 8

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