文摘
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测量并分析了InGaAs/GaAs应变量子阱中的激子发光衰退特性,研究了激子发光寿命与In组分和阱宽的关系。发现In组分增大时,激子寿命变短,而发光寿命与阱宽的关系不大。文章分析了影响发光寿命的诸多因素,指出在InGaAs/GaAs量子阱中,由合金无序造成的散射对激子发光寿命有重要的影响。 |
来源
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半导体学报
,1995,16(2):101 【核心库】
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关键词
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InGaAs/GaAs应变量子阱
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激子发光动力学
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发光寿命
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地址
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1.
中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京, 100083
2.
中科院半导体所, 半导体超晶格国家重点实验室, 北京
3.
西安交通大学电子科学系, 陕西, 西安
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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0253-4177 |
学科
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物理学 |
文献收藏号
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CSCD:262079
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