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半导体材料与器体生产工艺尾气中砷、磷、硫的治理及检测

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文摘 研究了化合物半导体材料、器件生产工艺中排出的有毒物质砷、磷、硫及其化合物的治理方法。还研究了这些有毒物质的低温富集取样及快速、灵敏的分析监测方法,并与其它经典的方法作了对比。
来源 半导体学报 ,1995,16(3):188 【核心库】
关键词 半导体材料 ; 尾气治理 ; 环境保护
地址

中科院半导体所, 北京

语种 中文
文献类型 研究性论文
ISSN 0253-4177
学科 物理学
文献收藏号 CSCD:262051

参考文献 共 2 共1页

1.  陈志君. ,1987 被引 1    
2.  闻瑞梅. 劳动保护科学技术,1993,13(2):29 被引 3    
引证文献 3

1 闻瑞梅 多元素测试仪测定二氧硅烷中的痕量磷 半导体学报,1997,18(2):156
被引 0 次

2 闻瑞梅 MOVPE生长Ca(CH↓3)↓3-AsH↓3-H↓2体系中砷的形态转化及砷的治理 电子学报,1997,25(2):76
被引 2

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