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纳米硅薄膜界面结构的微观特征

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何宇亮 1   褚一鸣 2   王中怀 3   刘湘娜 4   白春礼 3  
来源 半导体学报 ,1994,15(1):71 【核心库】
地址

1. 北京航空航天大学非晶态物理研究室, 北京, 100083  

2. 中科院半导体所, 北京电子显微镜开放实验室, 北京  

3. 中科院化学所, 北京  

4. 南京大学物理系, 固体微结构物理国家重点实验室, 江苏, 南京

语种 中文
文献类型 简报
ISSN 0253-4177
学科 物理学;电子技术、通信技术
基金 国家自然科学基金
文献收藏号 CSCD:230052

参考文献 共 7 共1页

1.  何宇亮. 纳米硅薄膜结构分析. 半导体学报,1992,13:683 被引 9    
2.  Wang L C. J Phys Condens Matter,1992,4:L509 被引 5    
3.  何宇亮. Chin Phys Lett,1993,10(9):539 被引 6    
4.  Tang Wenguo. 物理学报,1993,2(10):776 被引 1    
5.  刘湘娜. 物理学报,1993,42(11) 被引 1    
6.  何宇亮. 科学通报,1982,27(17):1037 被引 2    
7.  白春礼. 科学通报,1989,34(5):339 被引 8    
引证文献 6

1 何宇亮 纳米硅薄膜的压阻效应 科学通报,1995,40(7):605
被引 4

2 韩伟强 纳米硅薄膜界面中的环形结构 科学通报,1996,41(16):1520
被引 0 次

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