二元高-k材料研究进展及制备
The progress and preparation of binary compound high-k dielectric
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文摘
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随着大规模集成电路的发展,需要一种高介质材料来代替传统的SiO2,介绍了可能替代SiO2的几种二元材料的研究现状,主要包括Si3N4,Ta2O5,TiO2,ZrO2,Y2O3,Gd2O3和CeO2几种材料的结构和电学性能,以及制备薄膜的几种方法;蒸发法,化学气相沉积和离子束沉积。 |
其他语种文摘
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With the progress of the ULSI, a high-k material was needed to substrate the SiO_2 as gate dielectric. In this paper, some promising candidates such as Si_3N_4, Ta_2O_5, TiO_2, ZrO_2, Y_2O_3, Gd_2O_3, Ce0_2 were introduced, focusing on their electric properties and structure. Some techniques used to prepare high-k materials were presented, including vapor, CVD and IBD. |
来源
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功能材料
,2002,33(5):462-464,467 【核心库】
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关键词
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研究进展
;
制备
;
高-k材料
;
蒸发法
;
CVD
;
IBD
;
系统芯片
;
集成电路
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地址
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中科院半导体所, 中科院半导体材料科学开放实验室, 北京, 100083
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语种
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中文 |
文献类型
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综述型 |
ISSN
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1001-9731 |
学科
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电子技术、通信技术 |
基金
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国家973计划
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文献收藏号
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CSCD:1227132
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参考文献 共
30
共2页
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