文摘
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用正电子湮没技术(TPA)研究了含不同Zr量多晶Ni_3Al的e~+寿命谱.结果表明:在Ni_3Al中加入Zr,一部分Zr原子进行原子替位,使晶格发生畸变,导致基体中正电子寿命(τ_1)增长;另一部分在晶界偏聚的Zr调整了晶界结构,使平均寿命(τ)下降.当Zr量为1.2at.-%时,缺陷态为寿命τ_2显著增长,表明有自由体积较大的缺陷组态生成. |
来源
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金属学报
,1995,31(5):B238 【核心库】
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关键词
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正电子湮没
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Ni↓3Al
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Zr
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缺陷态
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地址
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1.
中科院金属所, 辽宁, 沈阳
2.
上海交通大学, 上海
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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0412-1961 |
基金
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国家自然科学基金
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文献收藏号
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CSCD:938895
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