基于亚像素边缘检测的PCR 芯片参数测量系统
Parameter Measurement System of PCR Chip Based on Sub-pixel Edge Detection

刘勇王卫华李志刚张文夏营威孙淼张龙

文摘	针对PCR 芯片几何参数的高精度测量需求,设计了基于亚像素边缘检测的PCR 芯片参数测量系统。该系统以机器视觉系统为硬件平台,首先采用LOG 算子对采集图像进行像素级初定位,通过Hough 变换获得图像边缘方向; 然后建立坐标系模型,利用灰度插值法获取新的亚像素边缘点; 最后在亚像素边缘方向上进行高斯拟合精确定位。试验结果表明: 该系统边缘定位精度高,且具有方向不变性,能够满足PCR 芯片的检测要求。
其他语种文摘	Aimed at high-precision measurement requirement of the PCR chip,a measurement system based on machine vision with sub-pixel edge detection was designed. LOG operator was used to locate image on the level of pixel. Hough transform and gray interpolation come in handy to achieve image edges in the coordinate system model and sub-pixel points of the edge. Experimental results show that this system has rotational invariance and realizes edge precise detection to satisfy measurement of the PCR chip.
来源	仪表技术与传感器 ,2014(2):65-67,89 【扩展库】
关键词	机器视觉 ; PCR 芯片 ; 边缘检测 ; 亚像素 ; 高斯拟合
地址	中国科学院安徽光学精密机械研究所, 安徽, 合肥, 230031
语种	中文
文献类型	研究性论文
ISSN	1002-1841
学科	自动化技术、计算机技术
文献收藏号	CSCD:5091931