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厚膜电容微位移传感器的非线性误差分析
Nonlinear Error Analysis of Thick Film Capacitor Micro Displacement Sensor

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文摘 分析了用于PZT形变-力传感-位移量传递模式实时检测的厚膜电容位移传感器的非线性问题,对传感器弹性膜片产生挠性形变以及位移检测带来的非线性问题做了系统的分析并给出了在小挠度形变情况下电容计算公式.仿真结果表明:在电容极板间隙为50 μm、膜片厚度为0.55 mm、工作半径为10 mm、膜片中心偏移量为5 μm的情况下,与普通极板电容计算公式相比,采用小挠度形变电容计算公式可使位移检测精度提高4.74%.
其他语种文摘 Analysis of nonlinear error was presented for thick film capacitor micro displacement measurement sensor which measured the PCT displacement based on the pattern of PZT deformation-force sensing-displacement. This paper systematically analyzed the deflection deformation of elastic diaphragm which may cause nonlinear error in displacement measurement and a capacitance calculation formula was developed under small deflection deformation. The simulation results show that the measuring accuracy can be improved about 4.74% when the developed calculation formula is used in the case of capacitor polar plates clearance is 50 μm, diaphragm thickness is 0.55 mm, working radius is 10 mm and the deflection of diaphragm center is 5 μm.
来源 仪表技术与传感器 ,2009(6):8-10,13 【扩展库】
关键词 电容 ; 位移检测 ; 挠性形变
地址

中国科学院合肥智能机械研究所, 安徽, 合肥, 230031

语种 中文
文献类型 研究性论文
ISSN 1002-1841
学科 自动化技术、计算机技术
基金 国家自然科学重点基金
文献收藏号 CSCD:3541017

参考文献 共 7 共1页

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