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Pyrex玻璃/铝多层阳极键合界面结构与力学分析
The interface microstructure and mechanical property of the multi-layer wafer of pyrex glass and Al by the common anode bonding process

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鲁晓莹 1   刘翠荣 1   孟庆森 1   杨振宇 2   赵亚溥 2  
文摘 采用公共阳极法实现了Pyrex玻璃与铝多层晶片的静电键合,对玻璃/铝/玻璃阳极接合界面的组织结构及其连接机理和力学特征进行了重点研究。分别利用微拉伸测试设备和ANSYS软件分析了连接区的力学性能和残余应力分布特征。分析认为键合区由玻璃-过渡层-铝组成,过渡层为Al_2O_3-SiO_2复合氧化物。玻璃/铝界面的微观组织和元素分布均以铝为对称轴呈对称分布。在玻璃/铝/玻璃多层连接区,键合界面附近的残余应力和应变呈对称分布,多层结构的对称性有利于缓解接头应变和应力,表明应用公共阳极法可实现多层玻璃/铝/玻璃的良好键合。
其他语种文摘 The bonding of multi-layer of glass and aluminum stack was achieved by the common anode bonding process.The bonding mechanism and mechanical property of the glass/aluminum/glass joints were investigated in the paper.The mechanical property and the residual stress of the glass/aluminum/glass bonded wafers were analyzed by means of the micro-tension test and the software of ANSYS.It is founded that the bonding area is consisted of the glass-transition layer-aluminum,and the transition layer is the combined metal oxide of the Al_2O_3-SiO_2.The microstructure and distribution of the elements are symmetrical in both sides of the aluminum interfaces.The residual stress and strain near the bonded interface are symmetrical in the bonding area of the multi-layer glass/aluminum/glass.The symmetry property of the multi-layer structure is beneficial to mechanical property of the joints.It indicates that the multi-layer glass/aluminum/glass wafers can be bonded firm due to the application of a common anode process.
来源 功能材料 ,2008,39(9):1466-1469 【核心库】
关键词 阳极键合 ; ; Pyrex玻璃 ; 力学特征 ; MEMS
地址

1. 太原理工大学材料与科学工程学院, 山西, 太原, 030024  

2. 中科院力学所, 非线性力学国家重点实验室, 北京, 100086

语种 中文
文献类型 研究性论文
ISSN 1001-9731
学科 金属学与金属工艺
基金 国家自然科学基金
文献收藏号 CSCD:3426996

参考文献 共 14 共1页

1.  Despont M. Sens Actuators A,1996,55:219-224 CSCD被引 13    
2.  Nitesh D N. Sens Actuators A,2004,113:212-217 CSCD被引 1    
3.  Huff M A. IEEE,1992,194:197 CSCD被引 1    
4.  van Helvoort A T J. Journal of the American Ceramic Society,2002,86:1773-1776 CSCD被引 1    
5.  Xing Q F. Journal of Materials Scienee:Materials in Electronics,2002,13:83-88 CSCD被引 2    
6.  孟庆森. β"氧化铝与铝及铝基复合材料场致扩散连接机理的研究. 硅酸盐学报,2002,30(4):447-450 CSCD被引 4    
7.  秦会峰. 硼硅玻璃与硅阳极键合界面形成机理分析. 功能材料,2006,37(9):1369-1371 CSCD被引 3    
8.  Carlson D E. J Am Ceram Soc,1974,57:291-294 CSCD被引 2    
9.  Knowles K M. Int Mater Rev,2006,51:275-311 CSCD被引 1    
10.  Meng Q S. JOINING MECHANISM OF FIELD-ASSISTED BONDING OF ELECTROLYTE GLASS TO METALS'. Chinese Journal of Mechanical Engineering (English Edition),2003,16(1):72-74 CSCD被引 2    
11.  Yang Z Y. Engineering Analysis with Boundary Elements,2007,31:402-409 CSCD被引 2    
12.  Epstein A H. Power MEMS and Microengines. Proc of the IEEE Transducers'97 Conference,1997:753-756 CSCD被引 1    
13.  Liu C R. The Mechanism and Process of Anodic Bonding for Glass and Aluminium. Proceedings of MNC, 2007,2007 CSCD被引 1    
14.  Wang C Z. Properties of Materials,2001:33 CSCD被引 2    
引证文献 2

1 胡宇群 MEMS阳极键合界面层的力学行为研究进展 南京航空航天大学学报,2015,47(4):474-486
CSCD被引 1

2 李创业 激光焊缝间距和焊接道次对玻璃与铝合金封接性能的影响及其机理研究 中国激光,2016,43(7):0702005-1-0702005-8
CSCD被引 1

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