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Cr_2Ta中层错的Z衬度像研究
Z-contrast imaging investigation of stacking faults in Cr_2Ta Laves phase
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文摘
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本文利用高角环形暗场成像技术获得六角Cr_2Ta Laves相的重原子分辨的原子序数(Z)衬度像,阐述了在相近分辨率情况下Z衬度成像技术与普通高分辨像相比具有一定优势.从所得到Cr_2Ta的层错的Z衬度像,直观地解释了层错的原子排列构型,为理解复杂结构中缺陷的原子构型提供了资料. |
其他语种文摘
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Atomic projection of hexagonal Cr_2Ta Laves phase has been directly imaged by Z-contrast imaging at an atomic scale,which provides much more detailed information compared with the conventional coherent high-resolution imaging.Stacking faults with sequence of …stst'st'stst'… were identified,where the three-layer stacks(Ta-Cr-Ta)switch from t to t' type.The defect configuration at an atomic level in the present study is expected to provide useful information for understanding defect structures in the Laves phase. |
来源
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电子显微学报
,2007,26(5):419-422 【核心库】
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关键词
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Cr_2Ta
;
Z衬度像
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层错
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高分辨像
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地址
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中国科学院金属研究所, 沈阳材料科学国家(联合)实验室, 辽宁, 沈阳, 110016
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语种
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中文 |
文献类型
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研究性论文 |
ISSN
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1000-6281 |
学科
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晶体学;金属学与金属工艺 |
基金
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国家自然科学基金
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文献收藏号
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CSCD:2929143
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参考文献 共
8
共1页
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1.
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