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确定断裂表面晶体学取向的电子背散射衍射方法
Method for determining crystal orientation of fracture facet using electron back-scattering diffraction
查看参考文献7篇
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文摘
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利用扫描电镜中带多自由度的样品台和电子背散射衍射系统（EBSD）研究了断口的晶体学定向方法。对于镍拉伸变形后的沿晶断裂表面，利用EBSD确定了晶粒与样品坐标之间的晶体学取向关系，通过样品台倾转获得断裂面与样品之间的几何对应关系，从而定出样品沿晶断裂面主要的晶体学位向是{100}。 |
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其他语种文摘
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A method was proposed to characterize the crystallographic orientation of fracture surface facets in a scanning electron microscope. Firstly, the orientation of grain abutted on the facet was measured relative to the reference axes in Ni sample after tensile testing using electron back-scattering diffraction analysis. Secondly, the inclination of the facet with respect to the same reference axes was determined by using double-tilting stage. Finally, the direction of fracture facet of Ni tension sample was obtained to be {100} . |
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来源
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电子显微学报
,2005,24(6):547-550 【核心库】
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关键词
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晶体定向
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电子背散射衍射
;
断裂面
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地址
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中国科学院力学研究所, 非线性力学国家重点实验室, 北京, 100080
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语种
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中文 |
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文献类型
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研究性论文 |
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ISSN
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1000-6281 |
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学科
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晶体学 |
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文献收藏号
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CSCD:2163948
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参考文献 共
7
共1页
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