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4 篇文献引用了这篇文献
张晋新,
强激光与粒子束, 2013, 25(9), 2433-2438 被引 4 次
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检索结果分布(4)
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题名
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作者
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来源
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被引频次
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8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理
详细信息
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汪波;
王立恒;
刘伟鑫
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光学学报, 2019, 39(5) |
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2
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SiGe BiCMOS线性器件脉冲激光单粒子瞬态效应研究
详细信息
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安恒;
张晨光;
杨生胜
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红外与激光工程, 2019, 48(3) |
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3
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CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应
详细信息
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汪波;
李豫东;
郭旗
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强激光与粒子束, 2015, 27(9), 94001-1-94001-5 |
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4
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不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法
详细信息
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陈睿;
余永涛;
董刚
显示更多作者
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强激光与粒子束, 2014, 26(7), 074005-1-074005-6 |
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