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4 篇文献引用了这篇文献
李明,
核技术, 2011, 34(6), 452-456 被引 4 次
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检索结果分布(4)
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题名
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作者
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来源
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被引频次
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1
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NROM存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性
详细信息
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张兴尧;
郭旗;
陆妩
显示更多作者
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核技术, 2015, 38(1), 010203-1-010203-6 |
1
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2
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典型FLASH存储器~(60)Co γ电离辐射效应测试与分析
详细信息
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宋卫;
曲狄;
吾勤之
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核技术, 2015, 38(1), 010202-1-010202-5 |
0
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3
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总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究
详细信息
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郑齐文;
余学峰;
崔江维
显示更多作者
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物理学报, 2013, 62(11), 116101-1-116101-7 |
2
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4
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部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究
详细信息
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李明;
余学峰;
薛耀国
显示更多作者
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物理学报, 2012, 61(10), 106103-1-106103-7 |
4
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