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王义元, 核技术, 2010, 33(6), 465-468 被引 3 次 

检索结果分布(3)
来源 年代 作者 学科
1. 微电子学(2) 1. 2014(1) 1. 张彦秀 北京燕东微电子有限公司(2) 1. 电子技术、通信技术(2)
2. 物理学报(1) 2. 2013(1) 2. 孙江超 北京工业大学(2) 2. 能源与动力工程(1)
3. 2011(1) 3. 谢雪松 北京工业大学(2)

    题名 作者 来源 被引频次
1 不同工艺线性稳压器电离辐射效应及退火特性
详细信息 
孙江超; 张小玲; 张彦秀
显示更多作者
微电子学, 2014, 44(2), 253-255,259 0
2 国产线性稳压器电离总剂量效应及损伤研究
详细信息 
孙江超; 张小玲; 张彦秀
显示更多作者
微电子学, 2013, 43(5), 719-722 0
3 双极线性稳压器电离辐射剂量率效应及其损伤分析
详细信息 
王义元; 陆妩; 任迪远
显示更多作者
物理学报, 2011, 60(9), 096104-1-096104-9 9
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