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5 篇文献引用了这篇文献
赵凯,
半导体学报, 2007, 28(7), 1139-1143 被引 5 次
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检索结果分布(5)
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题名
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作者
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来源
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被引频次
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1
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部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究
详细信息
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李明;
余学峰;
薛耀国
显示更多作者
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物理学报, 2012, 61(10), 106103-1-106103-7 |
4
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2
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PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究
详细信息
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李明;
余学峰;
卢健
显示更多作者
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核技术, 2011, 34(6), 452-456 |
4
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3
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基于PD SOI工艺的8 Kb抗辐照静态存储器
详细信息
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刘必慰;
陈书明;
梁斌
显示更多作者
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计算机工程与科学, 2009, 31(7), 81-84 |
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4
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RF PDSOI LDMOS器件的电离总剂量辐照效应
详细信息
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刘梦新;
韩郑生;
毕津顺
显示更多作者
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半导体学报, 2008, 29(11), 2158-2163 |
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5
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A Total Dose Radiation Hardened PDSOI CMOS 3-Line to 8-Line Decoder
详细信息
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Liu Mengxin;
Han Zhengsheng;
Li Duoli
显示更多作者
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半导体学报, 2008, 29(6), 1036-1039 |
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