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高嵩, 核技术, 2006, 29(8), 627-630 被引 1 次 

检索结果分布(1)
来源 年代 作者 学科
1. 核技术（1） 1. 2010（1） 1. 郑玉展 中国科学院新疆理化技术研究所（1） 1. 电子技术、通信技术（1）
2. 王义元 中国科学院新疆理化技术研究所（1）
3. 陆妩 中国科学院新疆理化技术研究所（1）

    题名 作者 来源 被引频次
1 正常工作状态与零偏置JFET输入运算放大器的辐射损伤
详细信息  		郑玉展; 陆妩; 任迪远
显示更多作者 		核技术, 2010, 33(5), 357-361 1
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