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汪东, 微电子学, 2005, 35(5), 493-496,500 被引 4 次 

检索结果分布(4)
来源 年代 作者 学科
1. 电子学报(1) 1. 2008(1) 1. Guo Qi 中国科学院新疆理化技术研究所(1) 1. 电子技术、通信技术(3)
2. 半导体学报(1) 2. 2018(1) 2. 张帅 西北核技术研究所(1) 2. 物理学(1)
3. 原子能科学技术(1) 3. 2013(1) 3. 孙静 中国科学院新疆理化技术研究所;;新疆电子信息材料与器件重点实验室(1)

    题名 作者 来源 被引频次
1 平衡材料对双极器件电离总剂量效应的影响
详细信息 
王涛; 王倩; 何承发
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电子学报, 2020, 48(11), 2278-2283 0
2 低剂量率辐照损伤增强效应的高温辐照加速试验机理研究
详细信息 
姚志斌; 陈伟; 何宝平
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原子能科学技术, 2018, 52(6), 1144-1152 1
3 功率VDMOS器件低剂量率辐射损伤效应研究
详细信息 
高博; 刘刚; 王立新
显示更多作者
微电子学, 2013, 43(1), 115-119,124 0
4 An Accelerated Simulation Method for ELDRS of Bipolar Operational Amplifiers Using a Dose-Rate Switching Experiment
详细信息 
Lu Wu; Ren Diyuan; Zheng Yuzhan
显示更多作者
半导体学报, 2008, 29(7), 1286-1291 4
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