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王占国, 化工进展, 2004, 23(2), 117-126 被引 3 次 

检索结果分布(3)
来源 年代 作者 学科
1. 电子元件与材料(1) 1. 2018(1) 1. 任格格 辽宁工程技术大学(1) 1. 电子技术、通信技术(2)
2. 半导体学报(1) 2. 2005(1) 2. 解新建 河北工业大学(1) 2. 电工技术(1)
3. 半导体技术(1) 3. 2010(1) 3. 丁红旗 辽宁工程技术大学(1)

    题名 作者 来源 被引频次
1 单晶黑硅结构的制备及其陷光性能
详细信息 
任格格; 丁红旗
电子元件与材料, 2018, 37(5), 40-46 0
2 MOCVD外延生长GaN材料的技术进展
详细信息 
张冠英; 梅俊平; 解新建
半导体技术, 2010, 35(3), 201-204 3
3 量子点的原子力显微镜测试结果分析:数学形态学的实现
详细信息 
金峰; 鲁华祥; 李凯
显示更多作者
半导体学报, 2005, 26(11), 2120-2126 0
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