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王占国,
化工进展, 2004, 23(2), 117-126 被引 3 次
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来源
年代
作者
学科
1. 电子元件与材料(1)
1. 2018(1)
1. 任格格 辽宁工程技术大学(1)
1. 电子技术、通信技术(2)
2. 半导体学报(1)
2. 2005(1)
2. 解新建 河北工业大学(1)
2. 电工技术(1)
3. 半导体技术(1)
3. 2010(1)
3. 丁红旗 辽宁工程技术大学(1)
题名
作者
来源
被引频次
1
单晶黑硅结构的制备及其陷光性能
详细信息
任格格;
丁红旗
电子元件与材料, 2018, 37(5), 40-46
0
2
MOCVD外延生长GaN材料的技术进展
详细信息
张冠英;
梅俊平;
解新建
半导体技术, 2010, 35(3), 201-204
3
3
量子点的原子力显微镜测试结果分析:数学形态学的实现
详细信息
金峰;
鲁华祥;
李凯
陈涌海;
王占国
显示更多作者
半导体学报, 2005, 26(11), 2120-2126
0
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