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张泽洪, 半导体学报, 2003, 24(3), 279-283 被引 1 次 

检索结果分布(1)
来源 年代 作者 学科
1. 半导体学报（1） 1. 2004（1） 1. 梅丁蕾 电子科技大学（1） 1. 电子技术、通信技术（1）
2. 杨谟华 电子科技大学（1）
3. 白云霞 中国科学院半导体研究所（1）

    题名 作者 来源 被引频次
1 基于双肖特基接触GaN薄膜特性参数测试新方法
详细信息  		罗谦; 杨谟华; 杜江锋
显示更多作者 		半导体学报, 2004, 25(12), 1730-1734 0
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